對分布光度計的校準,也有采用其他替代校準方法,如照度法和光通量法等對測量系統進(jìn)行校準。但這些校準方法在不同程度上存在一些問(wèn)題。且如果系統的校準狀態(tài)與實(shí)際的測量狀態(tài)不一致,即未經(jīng)過(guò)反光鏡或未經(jīng)過(guò)系統所使用的所有反光鏡(多面反光鏡系統),也會(huì )對系統的校準帶來(lái)一定的誤差。
光強是基于遠場(chǎng)照度測量而得到的量值。因此在分布光度測量系統中,探測器可按照JJG 245—2005 《光照度計》檢定規程進(jìn)行計量校準。即當測試系統的幾何結構、條件符合距離平方反比定律時(shí),可以采用經(jīng)計量的照度探測器和精確測定的距離來(lái)獲得。檢定時(shí),通常將光強標準燈和探測器至于光學(xué)導軌上,探測器與標準燈的燈絲平面之間的距離應至少大于發(fā)光面或探測器的測試面的最大線(xiàn)度(燈絲平面、探測器測試面的對角線(xiàn)長(cháng)度或直徑)的15倍以上。使用此方法檢定完成后的探測器雖完成了校準,但并不能直接用于分布光度計的測量。